saat ini: | 1.0 |
---|---|
tegangan mundur turunan: | 800 |
teknologi manufaktur: | semikonduktor opttoelektronik |
material: | semikonduktor elemen |
tipe: | jenis semikonduktor n-tipe |
paket: | pga(paket pin grid array) |
Pemasok dengan izin usaha terverifikasi
DAFTAR UJI KEANDALAN TINGGI | |||
Angka |
Bereksperimen Item |
Metode dan kondisi Percobaan |
Referensi |
1 | Resistansi solder |
260klik+5celcius untuk 10+2dtk. Rendam tubuh dalam solder 1/16"+1/32" |
MIL-STD-750D METODE-2031.2 |
2 | Solderabilitas |
230celc5+5celc selama dtk | MIL-STD-750D METODE-2026.10 |
3 | Uji Tarik |
1kg pada arah Sadapan Aksial selama 10 dtk | MIL-STD-750D METODE-2036.4 |
4 | Uji bengkok |
Berat 0,5kg berlaku untuk setiap Sadapan Busur Meliuk 90 ±5celcius tiga kali |
MIL-STD-750D METODE-2036.4 |
5 | Suhu Tinggi Pengujian bias terbalik |
TA=100 1000 untuk 80 jam di VR=% Tetapan VR | MIL-STD-750D METODE-1038.4 |
6 | Uji masa Pakai Maju |
TA=arus rata-rata Tetapan 25 derajat Selama 500 jam |
MIL-STD-750D METODE-1027.3 |
7 | Masa Pakai Intermiten |
On menyatakan: 5 mnt Tj=125 C-175 dengan Peringkat daya IRMS. Off state: 5 min Tj=TA+15 dengan Udara dingin yang dipaksa.Hidup dan Mati untuk 1000 siklus. |
MIL-STD-750D METODE-1036.3 |
8 | Penanak Tekanan |
15 PSIG,TA=121,24 JAM | MIL-STD-750D |
9 | Bersepeda dengan suhu |
-55 30/+125 menit untuk waktu dwonor 5 menit untuk waktu transfer. Total 10 siklus. |
MIL-STD-750D METODE-1051.7 |
10 | Tersengat Termal |
0 5 untuk 10 mnt, 100 5 mnt, Total siklus | MIL-STD-750D METODE-1056.7 |
11 | Lonjakan daya |
8.3 ms Single Hale Sinus Wave yang tertutupi Pada Beban Tetapan, satu lonjakan. |
MIL-STD-750D METODE-4066.4 |
12 | Tes Kelembapan |
TA=65 atau 2 98, RH=% untuk 1.000 jam. | MIL-STD-750D METODE-1021.3 |
13 | Masa Pakai Penyimpanan suhu Tinggi |
150 1000 C selama jam | MIL-STD-750D METODE-1031.5 |
Pemasok dengan izin usaha terverifikasi