| Kustomisasi: | Tersedia |
|---|---|
| Layanan purna jual: | online |
| Garansi: | 1 tahun |
Pemasok dengan izin usaha terverifikasi
Pemasok yang Diaudit Diaudit oleh lembaga inspeksi pihak ketiga yang independen
Penganalisis Multi-fungsional X-ray tersebar High Resolution XRD
Pengenalan
Paduan difusi terfungsional sinar-X racomtometer dan teraztometer sinar-X resolusi tinggi sedang digunakan di berbagai bidang analisis struktur material. Material yang dianalisis mencakup: Bahan logam, bahan inorganik, bahan komposit, bahan organik, anoma, dan bahan superkonduktor. Bahan-bahan ini menyatakan bahwa dapat dianalisis antara lain: Sampel bubuk, sampel blok, sampel film, dan sampel micro-area dan sampel jejak. Aplikasi ini banyak digunakan di bidang penelitian seperti mineral tanah liat, bahan bangunan semen, debu lingkungan, produk kimia, farmasi, asbestos, mineral batu, dan polimer.
Fitur Produk
Sractometer seri DX dirancang untuk penelitian material dan analisis produk industri. Produk yang sempurna menggabungkan analisis rutin dengan pengukuran khusus.
· Kombinasi sempurna dari sistem perangkat keras dan sistem perangkat lunak memenuhi kebutuhan para ahli dan peneliti dalam berbagai bidang aplikasi.
· Sistem pengukuran Sudut difraksi presisi tinggi untuk mendapatkan hasil pengukuran yang lebih akurat.
· Sistem kontrol generator sinar-X stabilitas tinggi mencapai akurasi pengukuran yang lebih stabil.
· Berbagai aksesori fungsional memenuhi kebutuhan dari tujuan pengujian yang berbeda.
· Operasi yang telah diprogram dan desain struktur terpadu memudahkan pengoperasian dan instrumen memiliki tampilan yang lebih estetis.
Pemasangan sinar-X-ray adalah instrumen uji universal untuk mengungkap struktur kristal dan informasi kimia material.
· Identifikasi satu atau beberapa fase dalam sampel yang tidak diketahui.
· Analisis kuantitatif untuk fase yang diketahui dalam sampel campuran.
· Analisis struktur kristal (analisis struktur Rietveld).
· Perubahan struktur kristal dalam kondisi yang tidak konvensional (suhu tinggi dan rendah).
· Analisis sampel film tipis, termasuk fase film tipis, ketebalan film multi-lapisan, kekasaran permukaan, dan kepadatan muatan.
· Analisis sampel area mikro.
· Analisis tekstur dan stres dari material logam.
Kombinasi kualitas sempurna dan kinerja luar biasa
· Selain fungsi-fungsi dasarnya, seri DX mengalami raktometer dengan cepat dapat dilengkapi dengan berbagai aksesori dan memiliki kemampuan analitikal yang sangat kuat.
· Pemrosesan mekanis presisi tinggi sangat meningkatkan daya reproduksi posisi pemasangan aksesori. Perangkat lunak mengenali aksesori yang terkait secara otomatis tanpa perlu mengkalibrasi jalur optik. Pemasangan aksesori bisa dipasang dengan plug-and-play, dan dapat memenuhi kebutuhan pengukuran khusus.
Kombinasi sempurna dari kinerja tinggi dan kepraktisan
· Berdasarkan desain optik geometri θ-θ, telah memudahkan penyiapan sampel dan pemasangan berbagai aksesori.
· Penerapan tabung sinar-X keramik logam sangat meningkatkan daya pengoperasian dapat arena balap.
· Penghitung proporsional tertutup, tahan lama, dan bebas perawatan.
· Detektor keusutan silikon memiliki resolusi angular superior dan resolusi energi, dan kecepatan pengukurannya ditingkatkan lebih dari tiga kali.
· Berbagai aksesori raktometer yang kaya tersedia untuk memenuhi kebutuhan tujuan analitis yang berbeda-beda.
· Semua aksesori fungsional dari ractometer dikenali secara otomatis.
· Desain modular, yang juga dikenal sebagai komponen plug-and-play, memungkinkan operator menggunakan aksesori yang sesuai dari berbagai raktometer tanpa mengkalibrasi sistem optik.
Penganalisis Multi-fungsional X-ray tersebar High Resolution XRD
Fungsi Produk
· Fungsi pemrosesan data dasar (pencarian puncak, penghalusan, pengurangan latar belakang, pengepasan bentuk puncak, pembesaran bentuk puncak, Perbandingan spektrum, Kα1, α2 stripping, pengindeksan saluran difraksi, dll.).
· Analisis kuantitatif yang cepat tanpa sampel standar.
· Pengukuran ukuran biji.
· Analisis struktur kristal (pengukuran dan penyempurnaan parameter sel unit).
| Pengukuran stres makro scopic dan penghitungan tegangan sangat mikroskopis; Tampilan dua dimensi dan tiga dimensi dari beberapa gambar; Analisis kluster pola puncak difraksi Kurva koreksi lebar setengah dari data difraksi; Kurva koreksi deviasi Sudut data difraksi; Berdasarkan analisis kuantitatif Rietveld rutin; Analisis fase kualitatif dilakukan menggunakan database atau database pengguna ICDD; Melakukan analisis kuantitatif menggunakan database atau database; |
