Metode Luji Termal Puncak meja, Sumber panas Penampang sementara

• Layanan purna jual: suku cadang gratis
• Garansi: 1 tahun
• contoh: tcm-s
• rentang uji: 0.0001-300 w/(m*k)
• mengukur kisaran suhu: rt-130 derajat c
• diameter sensor: 7,5mm (no.1) 15mm (tidak. 2)
• Tidak. Model.: TCM-S
• akurasi: 0.001
• kesalahan pengulangan: ≤3%
• mengukur waktu: 5 160 detik
• laju pemanasan sampel: < 20 o c.
• menguji daya sampel: 0 1w (tidak. 1 sensor) 0 20w (tidak 2 sensor)
• daya: 220v ac (110v opsional)
• lingkungan kerja: 0 derajat celcius
• daya total: <500w
• ekspor data: excel, pdf
• standar referensi: iso2-2008
• Paket Transportasi: Plywood Packing
• Spesifikasi: ≥ 7.50*7.50*3.75 mm ≥ 15.00*15.00*7.50 mm
• Merek Dagang: Labxyi
• Asal: Cina
• Kapasitas Produksi: 100 PCS/Month

Deskripsi Produk

Pengenalan produk
Konduktivitas termal menggunakan teknik sumber pesawat transien (TPS). Kinerja tes stabil dan kemampuan pemrosesan data dan analisis tinggi, dapat digunakan untuk pengukuran konduktivitas termal dari beragam jenis bahan.
 
Objek pengukuran
Tipe Material: Logam, keramik, campuran, mineral, polimer, menggabungkan, kertas, fa  brik, busa (material isolasi permukaan datar, lembaran logam), poliuretana, fenolik, urea-formaldehida, Wol mineral (wool kaca, wol batu, wol mineral), dinding semen, panel campuran terbuat dari kaca, kertas kedap suara CRC, pelat semen pole, beton sandwich, pelat komposit gelas dan panel baja, panel sarang lebah kertas.

Fitur

• Rentang uji lebar dan kinerja uji stabil. Tingkat prioritas tersebut adalah pada tingkat prioritas diantara instrumen rumah tangga yang serupa;
• Pengukuran langsung, waktu tes dapat disetel sekitar 5-160s, yang dapat mengukur konduktivitas termal dengan cepat dan akurat, menghemat banyak waktu;
• Tidak akan terpengaruh oleh kontak tahan panas seperti metode statis;
• Tidak diperlukan persiapan sampel khusus, dan tidak ada persyaratan khusus untuk bentuk sampel. Padat curah hanya perlu memiliki permukaan sampel yang relatif halus dan memenuhi panjang dan lebar setidaknya dua kali diameter probe;
• Pengujian sampel non-destruktif berarti bahwa sampel dapat digunakan kembali;
• Probe dirancang dengan struktur heliks ganda, digabungkan dengan model matematika eksklusif, dan algoritma inti digunakan untuk menganalisis dan menghitung data yang dikumpulkan pada probe;
• Desain struktur tabel sampel inovatif, mudah dioperasikan, sesuai untuk menempatkan sampel ketebalan yang berbeda, dan pada waktu yang sama sederhana dan indah;
• Akuisisi data probe menggunakan chip pengambilan data yang diimpor. Resolusi tinggi chip tersebut dapat membuat hasil tes lebih akurat dan dapat diandalkan;
• Sistem kontrol host menggunakan mikroprosesor ARM, yang memiliki kecepatan penghitungan lebih cepat dibanding mikroprosesor tradisional, meningkatkan kemampuan analisis dan pemrosesan sistem, dan membuat penghitungan menghasilkan penghitungan yang lebih akurat;
• Instrumen ini dapat digunakan untuk menentukan parameter termoklin seperti benda padat, pasta padatan padat, kepadatan granular, koloid, cairan, bubuk, lapisan, film, dan bahan isolasi termal;
• Antarmuka Intelligent man-machine, tampilan layar LCD berwarna, kontrol layar sentuh, pengoperasian yang mudah dan sederhana;
• Kapabilitas pemrosesan data yang hebat. Komunikasi data komputer yang sangat otomatis dan sistem pemrosesan laporan

 Parameter teknis

Contoh	TCM-S
Rentang uji	0.0001-300 W/(m*K)
Mengukur kisaran suhu	RT-130 C (Bisa diperpanjang hingga suhu 35 300 C/ C)
Diameter sensor	7,5mm (NO.1) 15mm (No. 2)
Akurasi	0.001
Kesalahan pengulangan	≤3%
Mengukur waktu	5 160 detik
Laju pemanasan sampel	< 20 DERAJAT C
Menguji daya sampel	0 1w (TIDAK 1 sensor) 0    Sensor 20w (sensor No.2)
Ukuran sampel(D*H)	≥7.50*7.50*3.75 mm (sensor NO.1) ≥15.00*15.00*7.50 mm (sensor No.2)
Daya	220V AC  (110V opsional)
Lingkungan kerja	SBP 0-40 C
Daya Total	<500w
Ekspor data	EXCEL, PDF
Standar referensi	ISO22007-2008
Aksesori	Sampel bubuk pembuluh darah Gelas uji sampel cairan Fitting uji sampel yang solid

Catatan: Probe 1 mengukur material konduktivitas rendah tipis. Jika permukaan sampel yang diukur halus, rata dan lengket, maka sampel tersebut dapat ditumpuk