Spektroskopik Sinar-X untuk Analisis Campuran

• Aplikasi: Industri
• Garansi: > 1Tahun
• Metode Deteksi: X-ray
• Keuntungan: Factory
• Prinsip: Energy Dispersive X-ray
• Panjang gelombang: Spektroskopik
• Tidak. Model.: EDX8600H
• Elemen yang Dispertsif: Kisi Spektroskopik
• Nomor Lampu: Monchroommator
• Sertifikasi: RoHS, ISO9001, CE
• Disesuaikan: Disesuaikan
• elemen yang dapat diukur: na-u
• konten elemen: 1ppm-99.9999%
• waktu pengukuran: 200-600s
• Paket Transportasi: Carton Packing for Export
• Spesifikasi: CE, RoHS
• Merek Dagang: JB
• Asal: Wuxi
• Kapasitas Produksi: 10sets/Month

Deskripsi Produk

EDX8600H Fluoroometer Sinar-X

H menyerap semua kelebihan seri dan juga dilengkapi dengan sistem vakum, sehingga meningkatkan jangkauan pengujian, meningkatkan batas deteksi dan meningkatkan stabilitas data.

Fitur Produk
1. Detektor draf silikon yang diimpor dari Amerika dengan resolusi energi yang lebih tinggi biasanya akan meningkatkan deteksi.
2. Batasi elemen cahaya yang 100 kali lebih tinggi dibandingkan detektor Si-pin. Cakupan pengukuran lebih luas yang hampir dapat memenuhi persyaratan analisis elemen dari semua material konvensional.
3. Sistem pemrosesan integrasi data yang diimpor dari Amerika menjadikan akuisisi data lebih cepat, pengukuran lebih stabil dengan daya ulang yang bagus dan stabilitas dalam waktu lama.
4. Perangkat lunak yang terbaru memadukan beberapa metode komputasi gambar yang membuat pengukuran data lebih akurat dan stabil.
5. Perangkat lunak sepenuhnya memonitor suku cadang inti yang berjalan memastikan pengoperasian yang aman.
6. Sistem vakum khusus menawarkan kinerja vakum yang lebih baik dan hasil tes yang luar biasa.

Parameter teknis
Elemen Analyzer	NA-U.
Jangkauan Analyzer	1PPK-99.99%
Waktu pengukuran	100-300s yang dapat disetel
Pembatasan Maks elemen berbahaya RoHS	CD/Pb/Cr/hg/br/2PPM
Resolusi Energi	149±5eV
Suhu	15-30C
Catu Daya	Disarankan untuk stabilizer AC 220V±5V opsional