Pemakaian analytical view yang efisien Afm Instrument

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Magnification: >1000X
• Type: Video
• Number of Cylinder: Binoculars
• Mobility: Desktop
• Tidak. Model.: FM-Nanoview TAPPING
• Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
• Kind of Light Source: Ordinary Light
• Shape: Single-lens
• Usage: Teaching
• Principle: Optics
• Principle of Optics: Polarizing Microscope
• ukuran sampel: φ≤90 mm,h≤20 mm
• rentang pemindaian maks.: X/Y: 20 Um, Z: 2 Um
• resolusi: x/y:160;0.2 nm, z: 0,05nm
• laju pemindaian: 0,6hz. 4,34hz
• tipe umpan balik: umpan balik digital dsp
• koneksi pc: -2,0
• windows: kompatibel dengan jendela/2000/xp/7/8
• sudut pindai: acak
• gerakan sampel: 0 mm
• titik data: Tambah-tambah pada Tambah bintik berusia 256 tahun 256,512 pada Tambah penukar ASCII ( Un 512
• Paket Transportasi: Carton and Wooden
• Spesifikasi: 55 lbs
• Merek Dagang: flyingman
• Asal: China
• Kode HS: 9011800090
• Kapasitas Produksi: 100pieces/Month

Deskripsi Produk

Memperkenalkan mikroskop Atomic Force yang sangat hemat biaya-biaya, oleh Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd., ideal untuk Advanced biologis microscopy dan tujuan pendidikan kualitas tinggi.

 

Deskripsi Produk

Deskripsi Produk

Selamat datang di Suzhou flywheel Man Precision Instruments Co., Ltd.

Fitur:

1. Scan head and sample Stage dirancang untuk kinerja anti getaran yang kuat.


2. Perangkat deteksi laser dan kesejajaran probe secara presisi untuk memudahkan penyesuaian laser.


3. Serviceotor drive untuk memindai posisi area secara akurat.


4. Perangkat transfer sampel akurasi tinggi untuk memindai area yang diminati.


5. Sistem observasi optik untuk pemeriksaan ujung dan pemosisian sampel.


6. Sistem elektronik modular untuk memudahkan perawatan dan pengembangan.


7. Isolasi getaran pegas untuk kinerja yang sederhana dan efektif.

Perangkat Lunak:

1. Tambah penukar ASCII ke Tambah-Tambah pada Tambah bintik di 256... pada Tambah bintik di 256 512 Tambah pada Tambah bintik. 512


2. Fungsionalitas untuk memindahkan dan memotong area pemindaian, memilih area mana pun yang diinginkan.


3. Inisiasi pemindaian sudut acak.


4. Penyesuaian waktu-nyata dari sistem deteksi titik laser.


5. Opsi palet untuk warna gambar pemindaian berbeda.


6. Mendukung kalibrasi linear rata-rata dan offset secara real time.


7. Sensitivitas pemindai dan kalibrasi otomatis pengontrol elektronik.


8. Analisis offline dan pemrosesan gambar sampel.

Jelajahi produk canggih kami yang dirancang untuk memenuhi kebutuhan pemindaian presisi Anda.

  

Parameter Produk

III. Parameter Teknis Utama

Jelajahi spesifikasi teknis utama NanoView yang hemat biaya ini, mengetuk AnFM Instrument oleh Suzhou FlyMan Precision Instruments Co., Ltd.

Item	Data teknis	Item	Data teknis
Mode operasi	Mode kontak,  mode gesek,  mode  pemakaian yang lebih lama dari ketukan, Phase, MFM, EFM.	Sudut pindai	Acak
Ukuran sampel	Φ≤90 mm,H≤20mm	Gerakan sampel	0 mm
Rentang pemindaian Maks.	X/Y: 20 um, Z: 2 um	Lebar pulsa    motor yang mendekati	10±2 md
Resolusi	X/Y: 0.2 nm, Z: 0,05nm	Sistem optik	Perbesaran: 4X, resolusi: 2.5 um
Laju pemindaian	0,6Hz. 4,34Hz	Titik data	Tambah-penukar ASCII pada Tambah bintik-bintik pada 256 pada 256,512. 512
Kendali pemindaian	XY: 18-BIT D/A, Z: 16-BIT D/A.	Tipe umpan balik	Umpan balik digital DSP
Pengambilan sampel data	Satu  A/D 14-bit dan dua kali   saluran ganda A/D 16-bit secara bersamaan
Koneksi PC	USB2,0	Tingkat pengambilan sampel umpan balik	64,0kHz
Windows	Kompatibel  dengan Windows98/2000/XP/7/8

Selamat datang di Suzhou flywheel Man Precision Instruments Co., Ltd.

Didirikan pada tahun 2013, kami memiliki spesialisasi dalam menciptakan instrumen berkualitas tinggi bagi laboratorium dan pabrik. Produk andalan kita adalah Atomic Force mikroskop (AFM), yang dirancang untuk keperluan edukasi dan wafer.

Fitur-fitur utama:

• Teknologi canggih untuk pengukuran presisi


• Solusi hemat biaya untuk kebutuhan AFM


• Kinerja andal untuk hasil yang konsisten

Manfaat:

• Meningkatkan kurikulum pendidikan fisik


• Menjamin keakuratan inspeksi wafer untuk kontrol kualitas


• Mengoptimalkan efisiensi biaya dengan rasio biaya terbaik AFM

Rasakan kualitas dan kinerja unggul AFM untuk kebutuhan lab atau pabrik Anda. Hubungi kami hari ini untuk mempelajari lebih lanjut!

 

Foto detail