Mikroskop Inspeksi wafer (2003XJ)

• Tidak. Model.: 2003XJ

Deskripsi Produk

Sistem 1 Optic: Sistem optik tak terhingga danJarak fokus Lensa Tabung EPI Illuminator 2-nya: F' =200mm3 BX rencana bidang terang/Gelap Semi-APO Tujuan, fokus 45MM:5x/0.1, 10x/0.25, 20x/0.40, 40x/0.65, 60x/0.85(APO)4 Rencana Lapangan cerah/gelap Opsional sasaran APO 100x/0.9(kering), 150x/1.25(air)5 epipeipe: ESWF10X/25MM titik mata tinggi6 tahap mekanis besar dengan pelat kaca(Ukuran: 200 x mm) dan rentang yang bergerak 156mm x 150mm) 7 Eluminator:Lampu Halogen 12V/50W dengan diafragma bidang & diafragma Iris, dengan sistemfokus Coaxial & penganalisis Coaxial 8 Coaxial kasar/halus dengan rentang gerakan coaxial kasar 45mm9 kepala teropong dan trokular berbisa (kemiringan 30 ).Diameter dalam dari Eyepik tabung adalah 30mm10 nosepiece: Intle, utas tujuan adalah M27 x 0.7511 sumber cahaya terditransmisikan opsional dengan lensa pengumpul dan kondensor abbe tersedia12 dimensi di luar mikroskop: 540x360x8mm (LxWxWxH)13 Catu Daya 220V atau 110V